Jasnější detekce skic na podmalbách obrazů

K zjišťování podmaleb nebo výchozích skic na obrazech se často používá konfokální mikroskopie. Objektiv mikroskopu je od povrchu malby vzdálen jen milimetry a hrozí nebezpečí, že při neopatrné manipulaci bude obraz poškozen. Proto vědci z Trentské univerzity v Nottinghamu a z Kentské univerzity v Canterbury vypracovali ve spolupráci s konzervátory z Národní galerie v Londýně a pracovníky společnosti Ophthalmic Technologies v Torontu bezpečnější metodu koherenční tomografie. Při ní referenční paprsek interferuje s paprskem odraženým od určité vrstvy malby. Vrstvami proniká paprsek vlnové délky 850 nm lépe než při konfokální mikroskopii a pracovní vzdálenost od malby je 2-3 cm. Zkoumá se plocha 1 cm² malby, transverzní rozlišení (tj. do hloubky) je 25 µm. Rozlišení skic provedených brkem s tuší nebo uhlem bylo touto metodou jasnější a kontrastnější než při použití dvou různých postupů konfokální mikroskopie v infračerveném záření. (Europhotonics 10, 41, 2005/6)