Janda Pavel
Ing. Pavel Janda, CSc., (*1952) vystudoval fyzikální chemii na Vysoké škole chemicko-technologické v Praze.
Počet článků: 1
Mikroskopie rastrovací sondou
5. 7. 1998 | Vesmír 77, 381, 1998/7
Skupina metod nazývaných souhrnně mikroskopie rastrovací sondou (SPM) zahrnuje vedle vlastní mikroskopie i četné techniky analýzy povrchu. Nad...