Ing. Pavel Janda, CSc.

Ing. Pavel Janda, CSc., (*1952) vystudoval fyzikální chemii na Vysoké škole chemicko-technologické v Praze.

Počet článků: 1

Mikroskopie rastrovací sondou

5. 7. 1998  |  Vesmír 77, 381, 1998/7
Skupina metod nazývaných souhrnně mikroskopie rastrovací sondou (SPM) zahrnuje vedle vlastní mikroskopie i četné techniky analýzy povrchu. Nad...
 

Předplatným pomůžete zajistit budoucnost Vesmíru

Tištěná i elektronická
verze časopisu
Digitální archiv
od roku 1994
Speciální nabídka
pro školy a studenty

 

Objednat předplatné